Keysight (Agilent) 4155B
| Attribut | Wert |
|---|---|
| Anzahl der SMU-Kanäle | 4 Source/Monitor-Einheiten (SMUs) |
| Spannungsbereich | ±100 V (hochspannungsmodus) / ±20 V (normalmodus) |
| Strombereich | ±100 mA (maximaler Ausgangsstrom pro SMU) |
| Messauflösung Spannung | Bis zu 200 nV Spannungsauflösung |
| Messauflösung Strom | Bis zu 10 fA Stromauflösung |
| Anzahl der VSU-Kanäle | 2 Spannungsquelleinheiten (VSUs), Bereich ±20 V |
| Anzahl der VMU-Kanäle | 2 Spannungsmesseinheiten (VMUs), Eingangsimpedanz 1 GΩ |
| Schnittstellen | GPIB (IEEE-488) Schnittstelle zur Fernsteuerung und Automatisierung |
| Sweep-Funktionen | Linearer und logarithmischer Sweep, Listensweep sowie Pulsed-Sweep-Betrieb |
| Anwendungsbereich | Charakterisierung von Halbleiterbauelementen, DC/AC-Parameteranalyse für Transistoren, Dioden und ICs |
Keysight (Agilent) 4155B Options:
- HP 41501B - Optional Expander - SMU and Pulse Generator Expander (adds GNDU, 2xPGU, HPSMU or 2xMPSMU)
- HP 41501B - Option 412 - HPSMU + 2×PGU configuration
- HP 16440A - Optional Accessory - SMU/Pulse Generator Selector (2-channel switcher, expandable to 4 channels)
- HP 16441A - Optional Accessory - R-BOX (selectable series resistor for SMU output: 1MΩ, 100kΩ, 10kΩ, 0Ω)
- HP 16442A - Optional Accessory - Test Fixture
| Model | 4155B |
|---|
Der Keysight (Agilent) 4155B Halbleiter-Parameter-Analysator bietet hochauflösende I-V-Messungen von 1 fA bis 1 A und 1 µV bis 200 V. Ausgestattet mit extrem niederleckenden SMUs, integrierten Impulsgeneratoren und Selektorschaltern für automatische Gerätecharakterisierung. Synchronisierte Belastungs-/Messfunktion und Zeitbereichsmessung bis 10.001 Punkte.
Ideal für Leckstromtests und die Bewertung von Halbleiterprozessen, mit automatischer Analyse und benutzerfreundlicher Bedienung im Stil eines Kurventrackers.
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