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Keysight (Agilent)

Keysight (Agilent) 4156A Semiconductor Parameter Analyser

Semiconductor Parameter Analyser

4 SMU-Kanäle (Source/Monitor Units) Anzahl der Messkanäle
±0,5 V bis ±200 V Spannungsmessbereich
±1 pA bis ±100 mA Strommessbereich
0,2 µV (im niedrigsten Messbereich) Spannungsauflösung
0,1 fA (im niedrigsten Messbereich) Stromauflösung
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Attribut Wert
Anzahl der Messkanäle 4 SMU-Kanäle (Source/Monitor Units)
Spannungsmessbereich ±0,5 V bis ±200 V
Strommessbereich ±1 pA bis ±100 mA
Spannungsauflösung 0,2 µV (im niedrigsten Messbereich)
Stromauflösung 0,1 fA (im niedrigsten Messbereich)
Messgenauigkeit (Strom) ±0,1 % vom Messwert + Offset
Schnittstellen GPIB (IEEE-488), integriertes Diskettenlaufwerk
Anzeigeeinheit Integrierter Farbmonitor (CRT-Display)
Betriebstemperaturbereich 5 °C bis 40 °C
Stromversorgung 100–240 V AC, 50/60 Hz
Kalibrierungsformular Keysight (Agilent) 4156A Semiconductor Parameter Analyser

Reparaturformular Keysight (Agilent) 4156A Semiconductor Parameter Analyser
Maximum file size: 40MB

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Weitere Informationen
Model4156A

Der Keysight (Agilent) 4156A bietet eine präzise Halbleiteranalyse mit einem großen Messbereich: Strom von 1 fA bis 1 A (Offsetgenauigkeit 20 fA) und Spannung von 1 µV bis 200 V. Er unterstützt vollautomatische I-V-Messungen im DC- oder Pulsmodus und bis zu 6 SMUs.

Mit Zeitmessintervallen von 60 µs, bis zu 10.001 Punkten, synchronisierter Stress-/Messfunktion und Hochspannungspulsgeneratoren (±40 V) eignet sich das Gerät für hochpräzise Tests.

Testwall kann das gebrauchte Keysight (Agilent) 4156A Semiconductor Parameter Analyser liefern, vollständig getestet. Mit Expertenunterstützung und weltweiter Lieferung bietet Testwall leistungsstarke Instrumente mit unübertroffener Zuverlässigkeit und Servicequalität. Bitte kontaktieren Sie uns direkt für Kalibrierung oder Reparatur des Keysight (Agilent) 4156A Semiconductor Parameter Analyser.

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