Keysight (Agilent) 4279A
| Attribut | Wert |
|---|---|
| Messfrequenz | 1 kHz, 10 kHz, 100 kHz, 1 MHz |
| Messparameter | C-D, C-R, C-G, L-Q, L-R, Z-θ, Y-θ |
| Grundgenauigkeit | 0,1 % |
| Messbereich Kapazität | 0,001 pF bis 9,9999 F |
| Testspannung (DC-Bias) | 0 V bis ±35 V |
| Messdauer | 4 ms (schnell), 16 ms (mittel), 64 ms (langsam) |
| Schnittstelle | GPIB (IEEE-488) |
| Anzeigeauflösung | 5½ Stellen |
| Betriebstemperatur | 0 °C bis 55 °C |
| Stromversorgung | 100/120/220/240 V AC, 50/60 Hz |
Keysight Technologies 4279A Options:
- 4279A - 003 - 1% Frequency Shift: Test frequency is 1% higher than the standard unit to prevent possible test signal interference when the component test contacts are located close to those of other test units.
- 4279A - 009 - Delete Manual
- 4279A - 907 - Front Handle Kit
- 4279A - 908 - Rack Flange Kit
- 4279A - 909 - Rack Flange/Handle Kit
- 4279A - 910 - Extra Manual
| Model | 4279A |
|---|
Das Keysight (Agilent) 4279A 1MHz C-V Meter bietet hochpräzise Kapazitätsmessungen von 0,00001pF bis 1280,00pF mit einer Genauigkeit von 0,1% und einer 6-stelligen Auflösung, einschließlich eines programmierbaren DC-Offset-Sweeps bis ±38V mit 0,1% Spannungsgenauigkeit. Schnelles Ranging und GP-IB-Datenübertragung reduzieren die Testzeit erheblich.
Es verfügt über auswählbare Messgeschwindigkeiten (10ms, 20ms, 30ms), automatische Steuerung der Bias-Polarität und eignet sich hervorragend zur Charakterisierung von Halbleitern wie Varaktor- und MOS-Dioden in manuellen und automatisierten Testumgebungen.
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