Keysight (Agilent) B1510A
| Attribut | Wert |
|---|---|
| Modultyp | Hochleistungs-Mittelstrom-SMU (HPSMU) |
| Maximale Ausgangsspannung | ±200 V |
| Maximaler Ausgangsstrom | ±1 A |
| Maximale Ausgangsleistung | 20 W |
| Spannungsauflösung | 2 µV (im niedrigen Spannungsbereich) |
| Stromauflösung | 10 fA (im niedrigen Strombereich) |
| Kompatibles Hauptgerät | Keysight B1500A Halbleiter-Parameteranalysator |
| Anzahl der Kanäle | 1 Kanal pro Modul |
| Messfunktionen | Strom- und Spannungsmessung, Spot-, Sweep- und Pulsmessungen |
| Anwendungsbereich | Halbleitertests, Bauelementecharakterisierung, IV-Kennlinienmessung |
Keysight (Agilent) B1510A Options:
- B1510A - B1511B - Medium Power Source/Monitor Unit (MPSMU)
- B1510A - B1517A - High Resolution Source/Monitor Unit (HRSMU)
- B1510A - B1514A - 50 µs Pulse Medium Current Source/Monitor Unit (MCSMU)
- B1510A - B1520A - Multi-Frequency Capacitance Measurement Unit (MFCMU)
- B1510A - B1525A - High Voltage Semiconductor Pulse Generator Unit (HV-SPGU)
- B1510A - B1530A - Waveform Generator/Fast Measurement Unit (WGFMU)
- B1510A - B1531A - Remote Sense and Switch Unit (RSU)
- B1510A - E5288A - Atto-Sense and Switch Unit (ASU)
- B1510A - N1301A-100 - SMU CMU Unify Unit (SCUU)
- B1510A - N1301A-200 - Guard Switch Unit (GSWU)
- B1510A - N1255A - 2 Channel Connection Box for MCSMU
- B1510A - 16440A - SMU/Pulse Generator Selector
- B1510A - 16445A - SMU/PGU Selector Connection Adaptor
| Model | B1510A |
|---|
Das Keysight (Agilent) B1510A ist ein leistungsstarkes Source/Measure Unit (SMU) mit 4-Quadranten-Funktionalität im Bereich von 0,1 fA – 1 A und 0,5 µV – 200 V für präzise IV-Charakterisierungen. Es unterstützt Punkt-, Sweep-, Puls- und Abtastmessungen mit 100 μs Intervall und 500 μs Pulsbreite. QS-CV-Messungen mit Leckstromkompensation erhöhen die Genauigkeit bei Halbleitertests.
Diese SMU lässt sich nahtlos in den B1500A Parameteranalysator für Halbleitergeräte integrieren und bietet Auflösung im Sub-Femtoampere-Bereich. Die optionale Atto-Sense-Einheit (ASU) erweitert die Messfähigkeit auf Sub-fA-Niveau.
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