National Instruments PXIE-5114
| Attribut | Wert |
|---|---|
| Anzahl der Kanäle | 2 Kanäle |
| Abtastrate | 250 MS/s |
| Vertikale Auflösung | 8 Bit |
| Analogbandbreite | 150 MHz |
| Eingangsspannungsbereich | ±0,5 V bis ±5 V |
| Eingangsimpedanz | 50 Ω / 1 MΩ |
| Onboard-Speicher | 256 MB pro Kanal |
| Formfaktor | PXI Express (PXIe), 1 Steckplatz |
| Maximale Eingangssspannung | ±30 V (DC + Spitzenwechselspannung) |
| Betriebstemperaturbereich | 0 °C bis 55 °C |
| Model | PXIE-5114 |
|---|
Das National Instruments PXIe-5114 ist ein leistungsstarkes PXIe-Oszilloskop mit 2 Kanälen, 125 MHz Bandbreite und 250 MS/s Abtastrate. Es bietet präzise Erfassung und Analyse von Wellenformen und ist ideal für anspruchsvolle elektronische Messanwendungen. Die kompakte PXIe-Bauform ermöglicht eine nahtlose Integration in modulare Testsysteme.
Entwickelt für Ingenieure und Techniker, überzeugt dieses Oszilloskop bei der Signalanalyse, Fehlerbehebung und Validierung in F&E- und Produktionsumgebungen.
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