Wayne Kerr 1J65120BD1
| Attribut | Wert |
|---|---|
| Kapazitätsbereich | 1 pF – 120 µF |
| Frequenzbereich | 20 Hz – 1 MHz |
| Messparameter | C, L, R, Z, D, Q, θ, ESR |
| Grundgenauigkeit | 0,1 % |
| Prüfspannung | 5 mV – 1 V (RMS, einstellbar) |
| Schnittstelle | USB, GPIB (IEEE-488) |
| Anzeigetyp | LCD-Farbdisplay |
| Betriebstemperaturbereich | 0 °C – 40 °C |
| Stromversorgung | 100 – 240 V AC, 50/60 Hz |
| Abmessungen (B × H × T) | 330 mm × 105 mm × 350 mm |
Wayne Kerr 1J65120BD1 Options:
- 1J65120BD1 - /B1 - Bin handler (non-isolated 5V)
- 1J65120BD1 - /B2 - Bin handler (isolated 24V)
- 1J65120BD1 - /D1 - DC Bias (0 to +40V, 0 to +100mA)
- 1J65120BD1 - /D2 - DC Bias (-40V to +40V)
- 1J65120BD1 - /E - Equivalent Circuit Analysis
- 1J65120BD1 - /K - Material Test
- 1J65120BD1 - /M - Multi-Measurement Mode
- 1J65120BD1 - /Y - Polar Complex Plots
| Model | 1J65120BD1 |
|---|
Das Wayne-Kerr 1J65120BD1 ist ein Hochleistungs-Bauteilanalysegerät, entwickelt für präzise Tests. Es bietet einen weiten Messbereich mit außergewöhnlicher Genauigkeit und liefert zuverlässige Daten in anspruchsvollen Anwendungen. Das kompakte und leistungsstarke Design eignet sich sowohl für Labor- als auch für Feldeinsätze und gewährleistet stabile Ergebnisse.
Mit flexiblen Konfigurationsmöglichkeiten passt sich das Wayne-Kerr 1J65120BD1 an unterschiedliche Testanforderungen an. Besonders effektiv ist es bei Hochfrequenzanwendungen, bei denen kompromisslose Genauigkeit erforderlich ist. Es ist die ideale Wahl für detaillierte und wiederholbare Bauteilanalyse.
Testwall kann das gebrauchte Wayne-Kerr 1J65120BD1 liefern, vollständig getestet. Mit fachkundiger Unterstützung und weltweiter Lieferung bietet Testwall leistungsstarke Messtechnik mit unübertroffener Zuverlässigkeit und Servicequalität. Bitte kontaktieren Sie uns direkt, wenn Sie eine Kalibrierung oder Reparatur des Wayne-Kerr 1J65120BD1 benötigen.
