Wayne Kerr 3245
| Attribut | Wert |
|---|---|
| Frequenzbereich | 20 Hz – 2 MHz |
| Messparameter | L, C, R, Z, D, Q, θ, G, B, X, Δ% |
| Grundgenauigkeit | 0,05 % |
| Testspannung | 5 mV – 1 V (RMS, einstellbar) |
| Anzeigeauflösung | 6-stellige Anzeige |
| Prüffrequenzpunkte | Bis zu 1000 benutzerdefinierte Frequenzpunkte |
| Schnittstellen | GPIB, RS-232, USB |
| Bias-Spannung | Interner DC-Bias bis zu 2 V; externer Bias bis zu 40 V |
| Messgeschwindigkeit | Schnell, Mittel, Langsam (wählbar) |
| Betriebstemperaturbereich | 0 °C – 40 °C |
| Model | 3245 |
|---|
Das Wayne Kerr 3245 ist ein leistungsstarkes LCR-Messgerät zur präzisen Messung von Induktivität, Kapazität und Widerstand. Mit einem breiten Frequenzbereich, schnellen Messgeschwindigkeiten und hoher Genauigkeit eignet es sich für F&E- sowie Produktionsumgebungen. Die intuitive Benutzeroberfläche sorgt für klare Datendarstellung und effiziente Arbeitsabläufe.
Ingenieure können das Gerät für Qualitätssicherung, Fertigung und Entwicklung einsetzen, wo reproduzierbare und zuverlässige Ergebnisse für Komponententests entscheidend sind.
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