Wayne Kerr 6510B
| Attribut | Wert |
|---|---|
| Messfrequenzbereich | 20 Hz – 500 kHz |
| Grundgenauigkeit | 0,1 % |
| Messparameter | L, C, R, Z, Q, D, θ, ESR |
| Testspannung (Oszillator) | 5 mV – 1,275 V RMS |
| Anzahl der Anzeigestellen | 6 Stellen |
| Schnittstellen | GPIB (IEEE-488), RS-232, Handler-Schnittstelle |
| Messpunkte pro Sweep | Bis zu 512 Messpunkte |
| Bias-Spannung (intern) | 0 V – 40 V DC |
| Messgeschwindigkeit | Schnell, Mittel, Langsam (wählbar) |
| Betriebstemperaturbereich | 0 °C – 40 °C |
Wayne Kerr 6510B Options:
- 6510B - /B1 - Bin handler (non-isolated 5V), 25-way D-type connector
- 6510B - /B2 - Bin handler (isolated 24V), 25-way D-type connector
- 6510B - /D1 - DC Bias (0 to +40V, 0 to +100mA)
- 6510B - /D2 - DC Bias (-40V to +40V)
- 6510B - /E - Equivalent Circuit Analysis firmware option
- 6510B - /K - Material Test firmware option
- 6510B - /M - Multi-Measurement Mode firmware option
- 6510B - /Y - Polar Complex Plots firmware option
| Model | 6510B |
|---|
Der Wayne-Kerr 6510B ermöglicht präzise LCR-Messungen mit stabiler Leistung über den gesamten Testbereich. Dank seiner robusten Bauweise ist er für den langfristigen Einsatz in anspruchsvollen Umgebungen geeignet, ideal für Forschung, Fertigung und Ausbildung. Einfache Bedienelemente gewährleisten eine effiziente und genaue Nutzung.
Der Wayne-Kerr 6510B ist optimal für zuverlässige Komponententests und misst Induktivität, Kapazität und Widerstand mit höchster Genauigkeit. Die benutzerfreundliche Oberfläche steigert die Produktivität im Labor und in der Produktion.
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