Wayne Kerr 6510P
| Attribut | Wert |
|---|---|
| Messfrequenzbereich | 20 Hz – 500 kHz |
| Grundgenauigkeit | 0,05 % |
| Messparameter | L, C, R, Z, D, Q, θ, ESR |
| Testspannung (Oszillator) | 5 mV – 1 V RMS |
| Anzeigeauflösung | 6-stellige Anzeige |
| Schnittstellen | GPIB (IEEE-488), RS-232, Handler |
| Bias-Spannung (intern) | Bis zu 40 V DC |
| Messgeschwindigkeit | Schnell, Mittel, Langsam (wählbar) |
| Impedanzmessbereich | 1 mΩ – 100 MΩ |
| Betriebstemperaturbereich | 0 °C – 40 °C |
Wayne Kerr 6510P Options:
- 6510P - /B1 - Bin handler (non-isolated 5V), 25-way D-type connector
- 6510P - /B2 - Bin handler (isolated 24V), 25-way D-type connector
- 6510P - /D1 - DC Bias (0 to +40V, 0 to +100mA)
- 6510P - /D2 - DC Bias (-40V to +40V)
| Model | 6510P |
|---|
Der Wayne-Kerr 6510P bietet erweiterte Programmierbarkeit für LCR-Tests und ermöglicht präzise Messungen von Induktivität, Kapazität und Widerstand. Mit konfigurierbaren Einstellungen und automatisierten Abläufen steigert er Genauigkeit und Effizienz in Produktion und Forschung.
Seine Hochgeschwindigkeitstests machen ihn ideal für wiederkehrende Aufgaben in QA und F&E, während die benutzerfreundliche Oberfläche eine einfache Bedienung in verschiedenen Umgebungen gewährleistet.
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