Wayne Kerr

Wayne Kerr 6530P

High Frequency LCR Meter, 30 MHz
20 Hz – 3 MHz Frequenzbereich
L, C, R, Z, D, Q, θ, ESR Messparameter
0,1 % Grundgenauigkeit
5 mV – 1 V (RMS) Testspannung
6-stellige Anzeige Anzeigeauflösung
Datenblatt anfordern
Attribut Wert
Frequenzbereich 20 Hz – 3 MHz
Messparameter L, C, R, Z, D, Q, θ, ESR
Grundgenauigkeit 0,1 %
Testspannung 5 mV – 1 V (RMS)
Anzeigeauflösung 6-stellige Anzeige
Schnittstellen USB, RS-232, Handler
Messmodus Serien- und Parallelersatzschaltbild
Testfrequenzpunkte Bis zu 10 benutzerdefinierte Frequenzpunkte
Betriebstemperatur 0 °C – 40 °C
Stromversorgung 90 – 264 V AC, 47 – 63 Hz
Wayne Kerr 6530P Options:
  • 6530P - /B1 - Bin handler (non-isolated 5V)
  • 6530P - /B2 - Bin handler (isolated 24V)
  • 6530P - /D1 - DC Bias (0 to +40V, 0 to +100mA)
  • 6530P - /D2 - DC Bias (-40V to +40V)
Kalibrierungsformular Wayne Kerr 6530P

Reparaturformular Wayne Kerr 6530P
Maximum file size: 40MB

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Weitere Informationen
Model6530P

Der Wayne-Kerr 6530P bietet hochpräzise LCR-Messungen und schnelle Testergebnisse, ideal für Automatisierung und Qualitätskontrolle in der Produktion.

Mit programmierbaren Einstellungen und intuitiver Bedienung steigert er die Effizienz und gewährleistet gleichbleibende Teststandards für QA-Prozesse.

Testwall kann den gebrauchten Wayne-Kerr 6530P liefern, vollständig getestet. Mit fachkundigem Support und weltweitem Versand bietet Testwall leistungsstarke Messtechnik mit höchster Zuverlässigkeit. Kontaktieren Sie uns für Kalibrierung oder Reparatur des Wayne-Kerr 6530P.

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