Keithley
Keithley 4200-SCS
Système de caractérisation de semi-conducteurs
Système de caractérisation de semi-conducteurs Type d’instrument
I-V DC, C-V, I-V pulsée Types de mesure
9 Emplacements de modules
4200-SMU, 4210-SMU, 4200-PA, 4210-CVU, 4220-PGU, 4225-PMU Modules pris en charge
0,1 fA (4200-PA) Résolution minimale en courant
| Attribut | Valeur |
|---|---|
| Type d’instrument | Système de caractérisation de semi-conducteurs |
| Types de mesure | I-V DC, C-V, I-V pulsée |
| Emplacements de modules | 9 |
| Modules pris en charge | 4200-SMU, 4210-SMU, 4200-PA, 4210-CVU, 4220-PGU, 4225-PMU |
| Résolution minimale en courant | 0,1 fA (4200-PA) |
| Logiciel | KITE |
Le Keithley 4200-SCS est un système modulaire de caractérisation de semi-conducteurs pour les mesures I-V DC, C-V et I-V pulsées sur composants, matériaux et procédés. Il accepte jusqu’à neuf modules enfichables, dont des SMU avec préamplificateurs en option, des unités C-V ainsi que des générateurs et unités de mesure d’impulsions, et se pilote avec le logiciel Keithley KITE et sa bibliothèque de tests prêts à l’emploi. Prédécesseur du 4200A-SCS, il reste très utilisé dans les laboratoires de R&D, de fiabilité et universitaires.
Testwall fournit le Keithley 4200-SCS d’occasion entièrement testé, avec étalonnage sur demande et livraison dans toute l’Europe. Envoyez-nous vos besoins et demandez un devis.
