Keysight (Agilent) E5252A
| Attribut | Valeur |
|---|---|
| Type de matrice | Matrice de commutation à relais |
| Configuration | 10 × 48 (10 rangées, 48 colonnes) |
| Nombre de canaux | 480 canaux de commutation |
| Tension maximale | 300 V DC / 250 V AC |
| Courant maximal par canal | 1 A |
| Résistance de contact | Inférieure à 1 Ω |
| Interface de communication | GPIB (IEEE-488) |
| Compatibilité châssis | Compatible avec le châssis Keysight E5250A |
| Durée de vie des relais | Plus de 10 000 000 de cycles |
| Température de fonctionnement | 0 °C à 55 °C |
Keysight (Agilent) E5252A Options:
- E5250A - 001 - 10 x 12 matrix switch: From 10 x 12 to 10 x 48 matrix per frame (Option 001 x 1 to 4)
- E5250A - 301 - Relay function test adapter (for self test)
- E5250A - 501 - 24-channel (8 x 3) multiplexer: From 24 to 96 channels per frame (Option 501 x 1 to 4)
- E5250A - 16494A - Triaxial Cable
- E5250A - 16494B - Kelvin Triaxial Cable
- E5250A - 16494C - Kelvin Triaxial Cable for 4142
- E5250A - 16494D - 8 ch Shielded Coaxial Cable
- E5250A - 16494E - Wide Temperature 8 ch shielded Coaxial Cable
- E5250A - 16495A - Connector Plate w/12 Triax. Intlk/GNDU
- E5250A - 16495B - Connector Plate w/24 Triax. Intlk/GNDU
- E5250A - 16495C - Connector Plate w/6 8 ch SHLD conn
- E5250A - 16495D - Connector Plate w/12 8 ch SHLD conn
- E5250A - 16495E - Half Size Blank Plate
| Model | E5252A |
|---|
La carte de commutation matricielle Keysight (Agilent) E5252A 10x12 s'intègre parfaitement au châssis principal de commutation à faible fuite E5250A. Son design modulaire permet des configurations de sorties triaxiales x12, x24, x36 et x48. Elle comprend 6 entrées triaxiales à faible courant et 4 entrées coaxiales polyvalentes, avec des chemins internes dédiés pour les entrées triaxiales 1 à 4, les autres étant multiplexées sur des chemins partagés.
Idéale pour les bancs de test automatisés, la E5252A assure un routage précis avec un minimum de fuite de signal, convenant parfaitement aux mesures de signaux à faible courant et aux systèmes d’évaluation des dispositifs semi-conducteurs.
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