Tektronix BSA175C

| Attribut | Valeur |
|---|---|
| Taux de données maximum | 1,75 Gb/s |
| Nombre de canaux | 4 canaux |
| Profondeur mémoire | 256 Mb par canal |
| Fréquence d'horloge de référence | 10 MHz |
| Plage de tension d'entrée | -2 V à +2 V |
| Impédance d'entrée | 50 Ω |
| Interface de communication | USB, GPIB, LAN (LXI) |
| Système d'exploitation | Windows XP Professionnel |
| Alimentation électrique | 100 V à 240 V CA, 50/60 Hz |
| Dimensions (L x H x P) | 426 mm x 222 mm x 533 mm |
Tektronix BSA175C Options:
- BSA175C - Opt. F2 - F/2 Jitter Generation at 8G/10.3125G (requires STR)
- BSA175C - Opt. STR - Stressed Signal Generation (includes option ECC, MAP, PL, XSSC, JTOL)
- BSA175C - Opt. XSSC - Extended Spread Spectrum Clocking (SSC) (included in STR)
- BSA175C - Opt. PCISTR - Add PCIe Gen2 Extended Stress Generation
- BSA175C - Opt. J-MAP - Add Jitter Decomposition SW
- BSA175C - Opt. ECC - Add Error Correction Coding Emulation SW (included in STR)
- BSA175C - Opt. JTOL - Add Jitter Tolerance Templates SW (included in STR)
- BSA175C - Opt. LDA - Add Live Data Analysis SW
- BSA175C - Opt. MAP - Add Error Mapping Analysis SW (included in STR)
- BSA175C - Opt. PL - Add Physical Layer Test Suite SW (included in STR)
- BSA175C - Opt. PVU - Add PatternVu Equalization Processing SW
- BSA175C - Opt. SF - Add Symbol Filtering option SW (used with STR)
- BSA175C - Opt. SLD - Add Stressed Live Data option SW
- BSA175C - Opt. CA1 - Provides a single calibration event or coverage
- BSA175C - Opt. C3 - Calibration Service 3 Years
- BSA175C - Opt. R3 - Repair Service 3 Years (including warranty)
- BSA175C - Opt. R3DW - Repair Service Coverage 3 Years (includes product warranty period). 3-year period starts at time of customer instrument purchase
| Model | BSA175C |
|---|
Le Tektronix BSA175C BERTScope permet une détection précise du taux d'erreur binaire avec une analyse avancée de localisation des erreurs, supportant un débit de 17,5 Gb/s sur un seul canal et des impulsions de 128 à 512 périodes d'horloge.
Idéal pour une analyse approfondie de la gigue et des rafales d'erreurs, sa capacité d'échantillonnage élevée offre une vision sans précédent des erreurs dépendantes du motif et des performances du système.
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