Wayne Kerr

Wayne Kerr 4350

20Hz To 500kHz LCR Meter
20 Hz à 500 kHz Plage de fréquence
0,1 % Précision de mesure
L, C, R, Z, Q, D, θ, ESR Paramètres mesurables
0,1 V à 1,0 V (réglable) Niveau du signal de test
10 mΩ à 100 MΩ Impédance de test
Attribut Valeur
Plage de fréquence 20 Hz à 500 kHz
Précision de mesure 0,1 %
Paramètres mesurables L, C, R, Z, Q, D, θ, ESR
Niveau du signal de test 0,1 V à 1,0 V (réglable)
Impédance de test 10 mΩ à 100 MΩ
Affichage Écran LCD rétroéclairé double affichage
Interface de connexion Interface RS-232 et GPIB
Vitesse de mesure Rapide, Moyenne, Lente (sélectionnable)
Alimentation électrique 90 V à 264 V CA, 47 Hz à 63 Hz
Dimensions et poids 330 mm x 110 mm x 350 mm, 5 kg
Formulaire d'étalonnage Wayne Kerr 4350

Formulaire de réparation Wayne Kerr 4350
Maximum file size: 40MB

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Model4350

Le Wayne Kerr 4350 20Hz à 500kHz LCR Meter offre des capacités de mesure précises sur une large plage de fréquences, permettant des tests précis d'inductance, de capacité et de résistance. Avec une haute résolution et des performances stables, il prend en charge plusieurs modes de mesure, une faible distorsion du signal de test et des fonctions d'analyse avancées, garantissant une fiabilité optimale pour les environnements de laboratoire et de production.

Idéal pour les tests de composants, le contrôle qualité et les applications R&D, le Wayne Kerr 4350 20Hz à 500kHz LCR Meter offre des résultats rapides et reproductibles, en faisant un choix polyvalent pour les tâches exigeantes.

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