Wayne Kerr 6510P

| Attribut | Valeur |
|---|---|
| Plage de fréquence | 20 Hz – 500 kHz |
| Précision de base de l'impédance | 0,1 % |
| Plage de mesure de l'impédance | 1 mΩ – 100 MΩ |
| Niveau du signal de test | 5 mV – 1 V (RMS) |
| Paramètres mesurables | Z, Y, R, X, G, B, L, C, D, Q, θ, |Z|, |Y| |
| Interface de connexion | IEEE 488 (GPIB) et RS-232 |
| Vitesse de mesure | Jusqu'à 27 mesures par seconde |
| Affichage | Écran LCD rétroéclairé |
| Compensation | Correction circuit ouvert et court-circuit |
| Alimentation électrique | 90 – 264 V CA, 47 – 63 Hz |
Wayne Kerr 6510P Options:
- 6510P - /B1 - Bin handler (non-isolated 5V), 25-way D-type connector
- 6510P - /B2 - Bin handler (isolated 24V), 25-way D-type connector
- 6510P - /D1 - DC Bias (0 to +40V, 0 to +100mA)
- 6510P - /D2 - DC Bias (-40V to +40V)
| Model | 6510P |
|---|
Le Wayne-Kerr 6510P offre une programmabilité avancée pour les tests LCR, permettant des mesures précises d’inductance, de capacité et de résistance. Grâce aux paramètres configurables et aux flux de travail automatisés, il améliore la précision et l’efficacité dans les environnements de production et de recherche.
Ses capacités de test à grande vitesse le rendent idéal pour les tâches répétitives en QA et R&D, tandis que son interface intuitive garantit une utilisation conviviale dans divers contextes.
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