Wayne Kerr 65120P
| Attribut | Valeur |
|---|---|
| Plage de fréquence | 20 Hz – 120 MHz |
| Impédance mesurable | 1 mΩ – 100 MΩ |
| Précision de base | 0,05 % |
| Niveaux du signal de test | 5 mV – 1 V (RMS) |
| Paramètres mesurés | |Z|, |Y|, R, X, G, B, L, C, D, Q, θ |
| Interface de connexion | USB, GPIB, LAN (LXI) |
| Affichage | Écran couleur TFT LCD |
| Tension de polarisation CC | Jusqu'à ± 40 V (avec option interne) |
| Courant de polarisation CC | Jusqu'à 200 mA (avec option interne) |
| Température de fonctionnement | 0 °C – 50 °C |
Wayne Kerr 65120P Options:
- 65120P - /B1 - Bin handler (non-isolated 5V), 25-way D-type connector, 10 bins with absolute and percentage limits
- 65120P - /B2 - Bin handler (isolated 24V), 25-way D-type connector, 10 bins with absolute and percentage limits
- 65120P - /D1 - DC Bias (0 to +40V, 0 to +100mA)
- 65120P - /D2 - DC Bias (-40V to +40V)
| Model | 65120P |
|---|
Le Wayne-Kerr 65120P est un mesureur LCR programmable avancé conçu pour améliorer les tests automatisés avec une précision supérieure. Basé sur le 65120B, il offre une automatisation programmable qui simplifie les processus répétitifs tout en garantissant une grande fiabilité. Son fonctionnement rapide le rend idéal pour les environnements à haut débit, tandis que ses options de configuration flexibles lui permettent de gérer efficacement des tests complexes. Grâce à ses capacités de mesure LCR précises, cet instrument est un excellent choix pour les ingénieurs travaillant sur des tests de production à grande échelle.
Les ingénieurs bénéficient de la capacité du Wayne-Kerr 65120P à améliorer la productivité dans des environnements de test exigeants, offrant des performances constantes et une adaptabilité sur de multiples applications.
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