Wayne Kerr 6520P

| Attribut | Valeur |
|---|---|
| Plage de fréquence | 20 Hz – 20 kHz |
| Précision de base | 0,1 % |
| Paramètres de mesure | L, C, R, Z, D, Q, θ, ESR |
| Niveau du signal de test | 0,1 V – 1,0 V (réglable) |
| Impédance de test | 10 mΩ – 100 MΩ |
| Affichage | Écran LCD rétroéclairé double affichage |
| Interface | RS-232 / Handler |
| Vitesse de mesure | Rapide, Moyenne, Lente (sélectionnable) |
| Alimentation électrique | 90 – 264 V CA, 47 – 63 Hz |
| Dimensions (L x H x P) | 270 mm x 120 mm x 350 mm |
Wayne Kerr 6520P Options:
- 6520P - /B1 - Bin handler (non-isolated 5V), 25-way D-type connector, common 0V, bin outputs 0 to 5V (nominal) with >10mA current sink capability
- 6520P - /B2 - Bin handler (isolated 24V), 25-way D-type connector, common 24V input, outputs 0 to 24V with >10mA current source capability
- 6520P - /D1 - DC Bias (0 to +40V, 0 to +100mA), provides 0 to +40Vdc bias voltage and 0 to +100mAdc bias current
- 6520P - /D2 - DC Bias (-40V to +40V), provides -40V to +40Vdc bias voltage
| Model | 6520P |
|---|
Le Wayne-Kerr 6520P étend les capacités du 6520B en ajoutant une fonctionnalité entièrement programmable. Cela permet des routines de mesure automatisées efficaces, idéales pour les environnements de production. Il offre des mesures précises des composants avec des configurations flexibles et des commandes intuitives.
Conçu pour les tests à haut débit, le 6520P améliore l’efficacité du flux de travail en intégrant l’automatisation sans compromettre la précision des mesures. Son installation adaptable facilite l’intégration dans divers systèmes de test.
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