Associated Research OMNIA II 8207
| Attributo | Valore |
|---|---|
| Tensione di uscita AC (Rigidità dielettrica) | Da 100 V a 5000 V AC |
| Tensione di uscita DC (Rigidità dielettrica) | Da 100 V a 6000 V DC |
| Corrente di prova massima (AC) | 30 mA AC |
| Corrente di prova massima (DC) | 10 mA DC |
| Resistenza di isolamento | Da 100 V a 1000 V DC, fino a 50 GΩ |
| Resistenza di terra (Ground Bond) | Da 3 A a 30 A AC, resistenza fino a 100 mΩ |
| Corrente di dispersione (Line Leakage) | Misura fino a 20 mA |
| Interfacce di comunicazione | RS-232, USB, HANDLER (I/O digitale) |
| Memoria programmi | Fino a 100 sequenze di test memorizzabili |
| Alimentazione richiesta | 100 – 240 V AC, 50/60 Hz |
Associated Research OMNIA II 8207 Options:
- OMNIA - Ethernet - Optional Ethernet interface
- OMNIA - GPIB - Optional GPIB interface
- OMNIA - 400/800 Hz - Optional 400/800 Hz output frequency for Dielectric Withstand Test Mode
- OMNIA - Internal Multiplexer (4 port) - Optional internal HV multiplexer, 4 ports
- OMNIA - Internal Multiplexer (8 port) - Optional internal HV multiplexer, 8 ports
| Model | OMNIA |
|---|
L’Associated Research OMNIA II 8207 è un analizzatore di conformità elettrica 7-in-1 che integra i test AC/DC Hipot, resistenza di isolamento, continuità/collegamento a terra, funzionamento e dispersione di linea in un’unica connessione DUT. Dotato di sorgente AC integrata da 500VA, protezione avanzata SmartGFI®, tecnologia DualCHEK® e memoria espandibile fino a 10.000 passaggi, offre massima flessibilità e prestazioni elevate.
Con interfacce USB, RS-232, Ethernet e GPIB e un display a colori TFT LCD 800x480, l’OMNIA II 8207 offre menu personalizzabili, impostazioni multilingue e analisi delle forme d’onda in tempo reale.
Testwall può fornire l’Associated Research OMNIA II 8207 usato, completamente testato. Con supporto esperto e consegna globale, Testwall garantisce strumenti ad alte prestazioni con affidabilità e qualità del servizio senza pari. Contattaci direttamente se hai bisogno di calibrazione o riparazione dell’Associated Research OMNIA II 8207.
