Keysight (Agilent) 4156B

| Attributo | Valore |
|---|---|
| Numero di canali SMU | 4 unità di misura della sorgente (SMU) |
| Risoluzione della tensione | Fino a 2 µV |
| Risoluzione della corrente | Fino a 1 fA |
| Intervallo di tensione massima | ±200 V |
| Intervallo di corrente massima | ±100 mA |
| Numero di unità di monitor della tensione (VMU) | 2 unità di monitor della tensione |
| Interfaccia di comunicazione | GPIB (IEEE-488) |
| Display integrato | Display grafico a colori integrato |
| Applicazioni principali | Caratterizzazione di semiconduttori, analisi di dispositivi a stato solido |
| Compatibilità software | Compatibile con Keysight EasyEXPERT e software di analisi parametrica |
Keysight (Agilent) 4156B Options:
- HP 41501B - Optional Expander - SMU and Pulse Generator Expander (adds GNDU, 2xPGU, HPSMU or 2xMPSMU)
- HP 41501B - Option 412 - HPSMU + 2×PGU configuration
- HP 16440A - Optional Accessory - SMU/Pulse Generator Selector
- HP 16441A - Optional Accessory - R-BOX (selectable series resistor for SMU output)
- HP 16442A - Optional Accessory - Test Fixture
| Model | 4156B |
|---|
Il Keysight (Agilent) 4156B è un analizzatore avanzato di parametri per semiconduttori che consente misurazioni DC ultra precise e transitorie limitate. Dotato di quattro SMU di precisione, offre una risoluzione di corrente sub-pA e di tensione sub-mV, supporta analisi I/V impulsive e nel dominio del tempo, e include strumenti integrati di tracciamento dati e fitting di curve, completamente programmabile via GPIB.
Ideale per la modellazione dei dispositivi, test di affidabilità e R&D, il 4156B migliora la flessibilità di alimentazione e la precisione delle misure nella ricerca sui semiconduttori.
Testwall può fornire il Keysight (Agilent) 4156B usato, completamente testato. Con supporto esperto e consegna globale, Testwall garantisce strumentazione ad alte prestazioni con affidabilità e qualità del servizio senza pari. Contattaci direttamente se hai bisogno di calibrazione o riparazione del Keysight (Agilent) 4156B.





