Keysight (Agilent) E5252A
| Attributo | Valore |
|---|---|
| Numero di canali | 200 canali (configurazione 4×50) |
| Tensione massima di commutazione | 300 V DC / 250 V AC |
| Corrente massima di commutazione | 1 A per canale |
| Resistenza di contatto | Inferiore a 1 Ω |
| Tipo di commutazione | Matrice di commutazione multiplexer a singolo polo |
| Compatibilità telaio | Keysight E5250A (telaio per schede di commutazione) |
| Isolamento tra canali | Superiore a 10¹⁰ Ω |
| Capacità di commutazione | Inferiore a 50 pF |
| Tipo di relè | Relè a reed ad alta densità |
| Interfaccia di connessione | Connettori a 100 pin compatibili con il telaio E5250A |
Keysight (Agilent) E5252A Options:
- E5250A - 001 - 10 x 12 matrix switch: From 10 x 12 to 10 x 48 matrix per frame (Option 001 x 1 to 4)
- E5250A - 301 - Relay function test adapter (for self test)
- E5250A - 501 - 24-channel (8 x 3) multiplexer: From 24 to 96 channels per frame (Option 501 x 1 to 4)
- E5250A - 16494A - Triaxial Cable
- E5250A - 16494B - Kelvin Triaxial Cable
- E5250A - 16494C - Kelvin Triaxial Cable for 4142
- E5250A - 16494D - 8 ch Shielded Coaxial Cable
- E5250A - 16494E - Wide Temperature 8 ch shielded Coaxial Cable
- E5250A - 16495A - Connector Plate w/12 Triax. Intlk/GNDU
- E5250A - 16495B - Connector Plate w/24 Triax. Intlk/GNDU
- E5250A - 16495C - Connector Plate w/6 8 ch SHLD conn
- E5250A - 16495D - Connector Plate w/12 8 ch SHLD conn
- E5250A - 16495E - Half Size Blank Plate
| Model | E5252A |
|---|
La scheda di commutazione a matrice Keysight (Agilent) E5252A 10x12 si integra perfettamente con il telaio E5250A Low Leakage Switch. Il design modulare supporta configurazioni di uscita triaxiali x12, x24, x36 e x48. Dispone di 6 ingressi triaxiali a bassa corrente e 4 ingressi coassiali generici. Gli ingressi triaxiali 1-4 hanno percorsi interni dedicati, gli altri sono multiplexati.
Ideale per sistemi di test automatizzati, l’E5252A assicura un instradamento preciso e perdite di segnale minime, risultando perfetto per misurazioni a bassa corrente e per test su dispositivi a semiconduttore.
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