Stanford Research
Stanford Research SIM940
Rubidium Frequency Standard
±0,1 ppm su 0–70°C Stabilità della frequenza
Oscillatore a cristallo controllato in tensione (OCXO) Tipo di oscillatore
10 MHz Frequenza di uscita
+13 dBm (tipico) su 50 Ω Livello di uscita
-130 dBc/Hz a 1 kHz dalla portante Rumore di fase

| Attributo | Valore |
|---|---|
| Stabilità della frequenza | ±0,1 ppm su 0–70°C |
| Tipo di oscillatore | Oscillatore a cristallo controllato in tensione (OCXO) |
| Frequenza di uscita | 10 MHz |
| Livello di uscita | +13 dBm (tipico) su 50 Ω |
| Rumore di fase | -130 dBc/Hz a 1 kHz dalla portante |
| Tensione di alimentazione | +15 V DC tramite backplane SIM |
| Consumo di corrente | 800 mA (durante il riscaldamento), 200 mA (a regime) |
| Tempo di riscaldamento | Meno di 5 minuti per raggiungere la stabilità specificata |
| Compatibilità | Modulo compatibile con il sistema SIM (Stanford Research Systems) |
| Dimensioni del modulo | Formato standard SIM (larghezza singolo slot) |
| Model | SIM940 |
|---|
The Stanford Reasearch SIM940 integrates a rubidium oscillator (SRS Model PRS10) into the SIM900 platform.




