Tektronix BSA175C
| Attributo | Valore |
|---|---|
| Velocità di acquisizione dati | 1,75 Gb/s per canale |
| Numero di canali | 4 canali |
| Profondità della memoria | Fino a 512 Mbit per canale |
| Frequenza di clock massima | 1,75 GHz |
| Interfaccia di comunicazione | USB, GPIB, Ethernet (LAN) |
| Tensione di ingresso massima | ±40 V (picco) |
| Soglia di tensione programmabile | Da -2 V a +5 V |
| Sistema operativo supportato | Windows XP/7 |
| Trigger | Trigger avanzato su pattern, stato e sequenza |
| Dimensioni (L x A x P) | 426 mm x 222 mm x 533 mm |
Tektronix BSA175C Options:
- BSA175C - Opt. F2 - F/2 Jitter Generation at 8G/10.3125G (requires STR)
- BSA175C - Opt. STR - Stressed Signal Generation (includes option ECC, MAP, PL, XSSC, JTOL)
- BSA175C - Opt. XSSC - Extended Spread Spectrum Clocking (SSC) (included in STR)
- BSA175C - Opt. PCISTR - Add PCIe Gen2 Extended Stress Generation
- BSA175C - Opt. J-MAP - Add Jitter Decomposition SW
- BSA175C - Opt. ECC - Add Error Correction Coding Emulation SW (included in STR)
- BSA175C - Opt. JTOL - Add Jitter Tolerance Templates SW (included in STR)
- BSA175C - Opt. LDA - Add Live Data Analysis SW
- BSA175C - Opt. MAP - Add Error Mapping Analysis SW (included in STR)
- BSA175C - Opt. PL - Add Physical Layer Test Suite SW (included in STR)
- BSA175C - Opt. PVU - Add PatternVu Equalization Processing SW
- BSA175C - Opt. SF - Add Symbol Filtering option SW (used with STR)
- BSA175C - Opt. SLD - Add Stressed Live Data option SW
- BSA175C - Opt. CA1 - Provides a single calibration event or coverage
- BSA175C - Opt. C3 - Calibration Service 3 Years
- BSA175C - Opt. R3 - Repair Service 3 Years (including warranty)
- BSA175C - Opt. R3DW - Repair Service Coverage 3 Years (includes product warranty period). 3-year period starts at time of customer instrument purchase
Il Tektronix BSA175C BERTScope consente un rilevamento preciso del tasso di errore di bit con un'analisi avanzata della posizione degli errori, supportando una velocità dati di 17,5 Gb/s su un singolo canale e larghezze di impulso da 128 a 512 cicli di clock.
Ideale per analisi approfondite di jitter e raffiche di errori, la sua elevata capacità di campionamento offre una visione senza pari degli errori dipendenti dal pattern e delle prestazioni del sistema.
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