Wayne Kerr
Wayne Kerr 6510P
High Frequency LCR Meter, 10 MHz
20 Hz - 500 kHz Intervallo di frequenza
1 mΩ - 100 MΩ Intervallo di misura dell'impedenza
0,1% Precisione di base
Z, Y, R, X, G, B, L, C, D, Q, θ Parametri misurabili
5 mV - 1 V (RMS) Livello del segnale di test
| Attributo | Valore |
|---|---|
| Intervallo di frequenza | 20 Hz - 500 kHz |
| Intervallo di misura dell'impedenza | 1 mΩ - 100 MΩ |
| Precisione di base | 0,1% |
| Parametri misurabili | Z, Y, R, X, G, B, L, C, D, Q, θ |
| Livello del segnale di test | 5 mV - 1 V (RMS) |
| Display | Display LCD retroilluminato con lettura simultanea di due parametri |
| Interfacce di connessione | IEEE-488 (GPIB), RS-232, Handler |
| Velocità di misura | Fino a 40 misurazioni al secondo |
| Alimentazione | 90 - 264 V CA, 47 - 63 Hz |
| Dimensioni (L x A x P) | 425 mm x 88 mm x 350 mm |
Wayne Kerr 6510P Options:
- 6510P - /B1 - Bin handler (non-isolated 5V), 25-way D-type connector
- 6510P - /B2 - Bin handler (isolated 24V), 25-way D-type connector
- 6510P - /D1 - DC Bias (0 to +40V, 0 to +100mA)
- 6510P - /D2 - DC Bias (-40V to +40V)
| Model | 6510P |
|---|
Il Wayne-Kerr 6510P offre una programmabilità avanzata per i test LCR, consentendo misurazioni precise di induttanza, capacità e resistenza. Con impostazioni configurabili e flussi di lavoro automatizzati, migliora precisione ed efficienza in produzione e ricerca.
Le sue capacità di test ad alta velocità lo rendono ideale per compiti ripetitivi in QA e R&D, mentre l’interfaccia intuitiva garantisce un utilizzo semplice in vari contesti.
Testwall può fornire il Wayne-Kerr 6510P usato, completamente testato. Con supporto esperto e consegna globale, Testwall assicura strumenti ad alte prestazioni con affidabilità e qualità di servizio senza pari. Contattaci direttamente se hai bisogno di calibrazione o riparazione del Wayne-Kerr 6510P.
