Wayne Kerr 6515P

| Attributo | Valore |
|---|---|
| Gamma di frequenza | 20 Hz - 500 kHz |
| Impedenza misurabile | 1 mΩ - 100 MΩ |
| Precisione di base | 0,05% |
| Livello del segnale di test | 5 mV - 1 V (RMS) |
| Parametri misurabili | Z, Y, R, X, G, B, L, C, D, Q, θ, Δ% |
| Interfacce di connessione | IEEE-488 (GPIB), RS-232, Handler |
| Display | Display LCD retroilluminato con visualizzazione doppia dei parametri |
| Velocità di misurazione | Fino a 27 misurazioni al secondo |
| Tensione di bias DC | 0 V - 2 V (integrata) |
| Alimentazione | 90 - 264 V CA, 47 - 63 Hz |
Wayne Kerr 6515P Options:
- 6515P - /B1 - Bin handler (non-isolated 5V), 25-way D-type connector, 10 bins with absolute and percentage limits
- 6515P - /B2 - Bin handler (isolated 24V), 25-way D-type connector, 10 bins with absolute and percentage limits
- 6515P - /D1 - DC Bias (0 to +40V, 0 to +100mA)
- 6515P - /D2 - DC Bias (-40V to +40V)
| Model | 6515P |
|---|
Il Wayne-Kerr 6515P è uno strumento LCR programmabile avanzato, progettato per misure precise e rapide. Offre funzionalità di automazione completa, test LCR ad alta precisione e prestazioni compatte ma potenti. Il suo software intuitivo e i controlli sono ottimizzati per configurazioni complesse in ambienti industriali esigenti.
Progettato per applicazioni industriali avanzate, il 6515P garantisce precisione affidabile ed efficienza operativa, rendendolo uno strumento essenziale per test di alto livello.
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