Wayne Kerr 6520P
| Attributo | Valore |
|---|---|
| Gamma di frequenza | 20 Hz - 20 kHz |
| Gamma di impedenza | 1 mΩ - 10 MΩ |
| Precisione di base | 0,1% |
| Parametri misurabili | Z, Y, R, X, G, B, L, C, D, Q, θ, DCR |
| Livello del segnale di test | 10 mV - 1 V (RMS) |
| Velocità di misurazione | Lenta, Media, Rapida (fino a 27 misurazioni/secondo) |
| Interfacce di comunicazione | GPIB, RS-232, Handler |
| Display | Display LCD retroilluminato con visualizzazione di parametri primari e secondari |
| Tensione di polarizzazione DC | 0 V - 2 V (integrata) |
| Alimentazione | 85 V - 265 V CA, 48 Hz - 66 Hz |
Wayne Kerr 6520P Options:
- 6520P - /B1 - Bin handler (non-isolated 5V), 25-way D-type connector, common 0V, bin outputs 0 to 5V (nominal) with >10mA current sink capability
- 6520P - /B2 - Bin handler (isolated 24V), 25-way D-type connector, common 24V input, outputs 0 to 24V with >10mA current source capability
- 6520P - /D1 - DC Bias (0 to +40V, 0 to +100mA), provides 0 to +40Vdc bias voltage and 0 to +100mAdc bias current
- 6520P - /D2 - DC Bias (-40V to +40V), provides -40V to +40Vdc bias voltage
| Model | 6520P |
|---|
Il Wayne-Kerr 6520P amplia le funzionalità del 6520B con un controllo completamente programmabile. Questo consente procedure di misura automatizzate ed efficienti, ideali per ambienti di produzione. Offre misurazioni precise dei componenti con configurazioni flessibili e comandi intuitivi.
Progettato per test ad alta produttività, il 6520P migliora il flusso di lavoro grazie all’automazione senza compromettere la precisione delle misure. La sua configurazione adattabile permette un’integrazione semplice nei diversi sistemi di test.
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