Fluke (Wavetek) 9100E
| Atrybut | Wartość |
|---|---|
| Zakres napięcia wyjściowego AC | 0 – 1020 V |
| Zakres napięcia wyjściowego DC | 0 – 1020 V |
| Zakres prądu wyjściowego AC | 0 – 20 A |
| Zakres prądu wyjściowego DC | 0 – 20 A |
| Zakres rezystancji | 0 – 100 MΩ |
| Zakres częstotliwości | 10 Hz – 1000 Hz |
| Dokładność napięcia AC | ±0,02% |
| Dokładność napięcia DC | ±0,02% |
| Interfejs komunikacyjny | IEEE-488 (GPIB), RS-232 |
| Zasilanie | 100 – 240 V AC, 50/60 Hz |
Fluke (Wavetek) 9100E Options:
- 9100E - PLC - Procedure Library Card (each)
- 9100E - 10 - Blank 256k Byte, Programmable (FLASH) Memory Card (Use only for procedures)
- 9100E - 30 - Blank 256k Byte, Static (SRAM) Memory Card (Use for Results Data)
- 9100E - 50 - Tracker Ball
- 9100E - 60 - Soft Carrying Case
- 9100E - 90 - Rack Mounting Kit
- 9100E - 100 - High Stability Crystal Reference (Recommended for use with options 250 and 600)
- 9100E - 200 - 10 and 50 turn Current Coils
- 9100E - 250 - 250MHz Oscilloscope Calibration Module (installs internally — includes 4 cables, tee adapter and 50 ohm terminators)
- 9100E - 600 - 600MHz Oscilloscope Calibration Module (installs internally — includes 4 cables, tee adapter and 50 ohm terminators)
| Model | 9100E |
|---|
Fluke Wavetek‑9100E to uniwersalny system kalibracyjny umożliwiający weryfikację ponad 15 kategorii przyrządów pomiarowych, w tym multimetrów, oscyloskopów, mierników izolacji i watomierzy. Zapewnia precyzyjne sygnały napięcia/prądu DC/AC, rezystancji, pojemności oraz zaawansowanych przebiegów. Tryb „procedure mode” prowadzi użytkownika krok po kroku, zmniejszając ryzyko błędów.
Dzięki wszechstronnemu interfejsowi i wysokiej dokładności, 9100E jest niezbędnym narzędziem dla profesjonalnych laboratoriów kalibracyjnych.
Testwall może dostarczyć używany Fluke Wavetek‑9100E, w pełni przetestowany. Dzięki wsparciu ekspertów i globalnej dostawie, Testwall zapewnia wysoką jakość i niezawodność urządzeń. Skontaktuj się z nami, jeśli potrzebujesz kalibracji lub naprawy Fluke Wavetek‑9100E.
