Keithley
Keithley 4200-SCS
System charakteryzacji półprzewodników
System charakteryzacji półprzewodników Typ przyrządu
I-V DC, C-V, impulsowe I-V Rodzaje pomiarów
9 Gniazda modułów
4200-SMU, 4210-SMU, 4200-PA, 4210-CVU, 4220-PGU, 4225-PMU Obsługiwane moduły
0,1 fA (4200-PA) Min. rozdzielczość prądowa
| Atrybut | Wartość |
|---|---|
| Typ przyrządu | System charakteryzacji półprzewodników |
| Rodzaje pomiarów | I-V DC, C-V, impulsowe I-V |
| Gniazda modułów | 9 |
| Obsługiwane moduły | 4200-SMU, 4210-SMU, 4200-PA, 4210-CVU, 4220-PGU, 4225-PMU |
| Min. rozdzielczość prądowa | 0,1 fA (4200-PA) |
| Oprogramowanie | KITE |
Keithley 4200-SCS to modułowy system charakteryzacji półprzewodników do pomiarów I-V DC, C-V oraz impulsowych I-V przyrządów, materiałów i procesów. Przyjmuje do dziewięciu modułów wtykowych, w tym SMU z opcjonalnymi przedwzmacniaczami, jednostki C-V oraz moduły generacji i pomiaru impulsów, a obsługiwany jest oprogramowaniem Keithley KITE z biblioteką gotowych testów. Jest poprzednikiem 4200A-SCS i nadal jest szeroko stosowany w laboratoriach R&D, niezawodności i na uczelniach.
Testwall dostarcza używany Keithley 4200-SCS w pełni przetestowany, z kalibracją na życzenie i dostawą w całej Europie. Prześlij nam swoje wymagania i zapytaj o ofertę.
