Keysight (Agilent) 4156A Semiconductor Parameter Analyser
Semiconductor Parameter Analyser
| Atrybut | Wartość |
|---|---|
| Liczba kanałów SMU | 4 kanały jednostek pomiaru źródłowego (SMU) |
| Zakres napięcia wyjściowego | ±100 V (tryb wysokiego napięcia), ±20 V (tryb niskiego napięcia) |
| Zakres prądu wyjściowego | od 1 fA do 100 mA |
| Rozdzielczość pomiaru prądu | do 10 fA (femtoamperów) |
| Rozdzielczość pomiaru napięcia | do 2 µV (mikrowoltów) |
| Interfejs komunikacyjny | GPIB (IEEE-488) |
| Wbudowane funkcje analizy | Analiza charakterystyk I-V, C-V oraz parametrów tranzystorów i diód |
| Wyświetlacz | Wbudowany graficzny wyświetlacz CRT do prezentacji charakterystyk |
| Zasilanie | 100/120/220/240 V AC, 50/60 Hz |
| Zastosowanie | Charakteryzacja półprzewodników, analiza parametrów przyrządów elektronicznych i układów scalonych |
| Model | 4156A |
|---|
Keysight (Agilent) 4156A oferuje precyzyjną analizę półprzewodników z szerokim zakresem pomiarowym: prąd od 1 fA do 1 A (dokładność offsetu 20 fA) i napięcie od 1 µV do 200 V. Obsługuje w pełni automatyczne pomiary I-V w trybie DC lub impulsowym z możliwością rozszerzenia do 6 SMU.
Dzięki pomiarom czasowym co 60 µs, do 10 001 punktów, funkcjom stress/measure i generatorom impulsów (±40 V), urządzenie sprawdza się w testach wysokiej precyzji.
Testwall może dostarczyć używany Keysight (Agilent) 4156A Semiconductor Parameter Analyser, w pełni przetestowany. Dzięki wsparciu ekspertów i globalnej dostawie, Testwall zapewnia wydajne instrumenty o niezrównanej niezawodności i jakości usług. Skontaktuj się z nami w sprawie kalibracji lub naprawy Keysight (Agilent) 4156A Semiconductor Parameter Analyser.
