Manufacturer Logo
Keysight (Agilent)

Keysight (Agilent) 4157B

Semiconductor Parameter Analyser
8 kanałów jednostek pomiaru źródłowego (SMU) Liczba kanałów SMU
±200 V Maksymalne napięcie wyjściowe
±1 A Maksymalny prąd wyjściowy
2 µV Minimalna rozdzielczość napięcia
10 fA Minimalna rozdzielczość prądu
Atrybut Wartość
Liczba kanałów SMU 8 kanałów jednostek pomiaru źródłowego (SMU)
Maksymalne napięcie wyjściowe ±200 V
Maksymalny prąd wyjściowy ±1 A
Minimalna rozdzielczość napięcia 2 µV
Minimalna rozdzielczość prądu 10 fA
Zakres pomiaru rezystancji Od 0,1 mΩ do 200 GΩ
Interfejs komunikacyjny GPIB (IEEE-488)
Zastosowanie Charakteryzacja parametryczna półprzewodników i urządzeń elektronicznych
Zgodność z oprogramowaniem Kompatybilny z oprogramowaniem Keysight EasyEXPERT
Zasilanie 100–240 V AC, 50/60 Hz
Formularz kalibracji Keysight (Agilent) 4157B

Formularz naprawy Keysight (Agilent) 4157B
Maximum file size: 40MB

No Related Posts

Więcej informacji
Model4157B

Keysight (Agilent) 4157B to modułowy przyrząd parametryczny o elastycznej i rozbudowywalnej konfiguracji, sterowany za pomocą oprogramowania I/CV 3.0 Lite. Umożliwia pomiary ultraniskich prądów z rozdzielczością do 1 femtoampera oraz 100 attoamperów z jednostką Atto Sense & Switch (ASU). Wyjścia napięciowe osiągają ±200V i ±1A przez SMU dużej mocy, z płynnym przełączaniem IV/CV.

Doskonały do testowania płytek półprzewodnikowych z sekwencerem testów i analizą graficzną po testach.

Testwall dostarcza używany Keysight (Agilent) 4157B, w pełni przetestowany. Dzięki wsparciu ekspertów i globalnej dostawie, Testwall zapewnia wydajne instrumenty o niezrównanej niezawodności i jakości usług. Skontaktuj się z nami w sprawie kalibracji lub naprawy Keysight (Agilent) 4157B.

Clicky