Tektronix
Tektronix TDS8000B
Do 70 GHz (zależnie od zastosowanych głowic pomiarowych) Pasmo przenoszenia
Do 200 GS/s (ekwiwalentna częstotliwość próbkowania) Częstotliwość próbkowania
2 gniazda na moduły pomiarowe (rozszerzalne) Liczba kanałów
8 bitów Rozdzielczość pionowa
Do 262 144 punktów Długość rekordu
| Atrybut | Wartość |
|---|---|
| Pasmo przenoszenia | Do 70 GHz (zależnie od zastosowanych głowic pomiarowych) |
| Częstotliwość próbkowania | Do 200 GS/s (ekwiwalentna częstotliwość próbkowania) |
| Liczba kanałów | 2 gniazda na moduły pomiarowe (rozszerzalne) |
| Rozdzielczość pionowa | 8 bitów |
| Długość rekordu | Do 262 144 punktów |
| Impedancja wejściowa | 50 Ω |
| Zakres napięcia wejściowego | ±2 V przy 50 Ω |
| Wyświetlacz | Kolorowy wyświetlacz LCD o przekątnej 10,4 cala |
| Interfejsy komunikacyjne | GPIB, RS-232, Ethernet (LAN) |
| System operacyjny | Windows XP Embedded |
| Model | TDS8000B |
|---|
Oscyloskop próbkujący Tektronix TDS8000B oferuje pasmo przenoszenia do 70+ GHz dzięki modułowej budowie. Charakteryzuje się wysoką rozdzielczością, doskonałą stabilnością bazy czasowej i możliwością obsługi do ośmiu kanałów akwizycji.
Idealny do testowania półprzewodników, analizy TDR i komunikacji cyfrowej o dużej szybkości, zapewnia precyzyjne pomiary i spójność danych.
Testwall może dostarczyć używany Tektronix TDS8000B, w pełni przetestowany. Dzięki fachowemu wsparciu i dostawie na całym świecie, Testwall gwarantuje niezawodne urządzenia o wysokiej wydajności. Skontaktuj się z nami bezpośrednio, jeśli potrzebujesz kalibracji lub naprawy Tektronix TDS8000B.
