Wayne Kerr

Wayne Kerr 6505P

High Frequency LCR Meter, 5 MHz
20 Hz – 500 kHz Zakres częstotliwości
0,1% Podstawowa dokładność pomiaru impedancji
1 mΩ – 100 MΩ Zakres pomiaru impedancji
5 mV – 1 V (RMS) Poziom sygnału testowego (napięcie)
200 µA – 20 mA (RMS) Poziom sygnału testowego (prąd)
Zamów kartę katalogową
Atrybut Wartość
Zakres częstotliwości 20 Hz – 500 kHz
Podstawowa dokładność pomiaru impedancji 0,1%
Zakres pomiaru impedancji 1 mΩ – 100 MΩ
Poziom sygnału testowego (napięcie) 5 mV – 1 V (RMS)
Poziom sygnału testowego (prąd) 200 µA – 20 mA (RMS)
Mierzone parametry |Z|, |Y|, C, L, R, D, Q, θ, G, B, X
Wyświetlacz Kolorowy wyświetlacz LCD
Interfejsy komunikacyjne USB, LAN (LXI), Handler
Liczba punktów pomiaru (sweep) Do 1000 punktów
Zasilanie 90 – 264 V AC, 47 – 63 Hz
Wayne Kerr 6505P Options:
  • 6505P - /B1 - Bin handler (non-isolated 5V)
  • 6505P - /B2 - Bin handler (isolated 24V)
  • 6505P - /D1 - DC Bias (0 to +40V, 0 to +100mA)
  • 6505P - /D2 - DC Bias (-40V to +40V)
Formularz kalibracji Wayne Kerr 6505P

Formularz naprawy Wayne Kerr 6505P
Maximum file size: 40MB

No Related Posts

Więcej informacji
Model6505P

Wayne-Kerr 6505P zapewnia szybkie i precyzyjne pomiary dzięki programowalnym funkcjom ułatwiającym automatyczną analizę komponentów. Elastyczne opcje konfiguracji obsługują różnorodne zastosowania, czyniąc go niezbędnym narzędziem do zaawansowanych testów produkcyjnych i badań R&D wymagających dokładności i wydajności.

Dzięki intuicyjnemu interfejsowi 6505P upraszcza obsługę przy zachowaniu wysokiej wydajności. Funkcje automatyzacji umożliwiają efektywną integrację z procesami, skracając czas testów i zapewniając powtarzalne, precyzyjne wyniki.

Testwall może dostarczyć używany Wayne-Kerr 6505P, w pełni przetestowany. Dzięki profesjonalnemu wsparciu i globalnej dostawie, Testwall gwarantuje wysoką jakość i niezawodność aparatury pomiarowej. Prosimy o bezpośredni kontakt w sprawie kalibracji lub naprawy Wayne-Kerr 6505P

Clicky