Wayne Kerr
Wayne Kerr 6510P
High Frequency LCR Meter, 10 MHz
20 Hz – 500 kHz Zakres częstotliwości
0,1% Podstawowa dokładność pomiaru
0,01 Ω – 100 MΩ Zakres impedancji
5 mV – 1 V (RMS) Poziom sygnału testowego
L, C, R, Z, D, Q, θ, ESR Mierzalne parametry
| Atrybut | Wartość |
|---|---|
| Zakres częstotliwości | 20 Hz – 500 kHz |
| Podstawowa dokładność pomiaru | 0,1% |
| Zakres impedancji | 0,01 Ω – 100 MΩ |
| Poziom sygnału testowego | 5 mV – 1 V (RMS) |
| Mierzalne parametry | L, C, R, Z, D, Q, θ, ESR |
| Interfejs komunikacyjny | IEEE-488 (GPIB), RS-232 |
| Wyświetlacz | Ekran LCD z podświetleniem |
| Liczba punktów uśredniania | 1 – 256 |
| Zasilanie | 90 – 264 V AC, 47 – 63 Hz |
| Wymiary (szer. x wys. x gł.) | 330 mm x 133 mm x 350 mm |
Wayne Kerr 6510P Options:
- 6510P - /B1 - Bin handler (non-isolated 5V), 25-way D-type connector
- 6510P - /B2 - Bin handler (isolated 24V), 25-way D-type connector
- 6510P - /D1 - DC Bias (0 to +40V, 0 to +100mA)
- 6510P - /D2 - DC Bias (-40V to +40V)
| Model | 6510P |
|---|
Wayne-Kerr 6510P oferuje zaawansowaną programowalność w testach LCR, umożliwiając precyzyjne pomiary indukcyjności, pojemności i rezystancji. Dzięki konfigurowalnym ustawieniom i zautomatyzowanym procedurom zwiększa dokładność i efektywność w produkcji oraz badaniach.
Jego szybkie możliwości testowe sprawiają, że idealnie nadaje się do powtarzalnych zadań w QA i R&D, a intuicyjny interfejs zapewnia łatwą obsługę w różnych środowiskach.
Testwall może dostarczyć używany Wayne-Kerr 6510P, w pełni przetestowany. Dzięki fachowemu wsparciu i globalnej dostawie, Testwall zapewnia wysoką wydajność przy niezrównanej niezawodności i jakości usług. Skontaktuj się z nami bezpośrednio, jeśli potrzebujesz kalibracji lub naprawy Wayne-Kerr 6510P.
