Wayne Kerr 6520P
| Atrybut | Wartość |
|---|---|
| Zakres częstotliwości | 20 Hz – 500 kHz |
| Podstawowa dokładność pomiaru | 0,1% |
| Zakres impedancji | 1 mΩ – 100 MΩ |
| Poziom sygnału testowego (napięcie) | 5 mV – 1 V (RMS) |
| Poziom sygnału testowego (prąd) | 100 μA – 100 mA (RMS) |
| Mierzone parametry | |Z|, |Y|, C, L, R, D, Q, θ, G, B, X |
| Interfejs / Łączność | GPIB (IEEE-488), RS-232, Handler |
| Wyświetlacz | Kolorowy wyświetlacz LCD |
| Tryby pomiaru | Pomiar sekwencyjny, pomiar ciągły, pomiar jednorazowy |
| Zasilanie | 90 – 264 V AC, 47 – 63 Hz |
Wayne Kerr 6520P Options:
- 6520P - /B1 - Bin handler (non-isolated 5V), 25-way D-type connector, common 0V, bin outputs 0 to 5V (nominal) with >10mA current sink capability
- 6520P - /B2 - Bin handler (isolated 24V), 25-way D-type connector, common 24V input, outputs 0 to 24V with >10mA current source capability
- 6520P - /D1 - DC Bias (0 to +40V, 0 to +100mA), provides 0 to +40Vdc bias voltage and 0 to +100mAdc bias current
- 6520P - /D2 - DC Bias (-40V to +40V), provides -40V to +40Vdc bias voltage
| Model | 6520P |
|---|
Wayne-Kerr 6520P rozszerza możliwości modelu 6520B, dodając w pełni programowalną funkcjonalność. Umożliwia to szybkie i zautomatyzowane procedury pomiarowe, idealne do środowisk produkcyjnych. Zapewnia dokładne pomiary komponentów z elastycznymi konfiguracjami testów i intuicyjną obsługą.
Przystosowany do testów o dużej przepustowości, 6520P zwiększa wydajność pracy dzięki automatyzacji bez utraty dokładności pomiarów. Jego elastyczna konfiguracja pozwala na łatwą integrację z różnymi systemami testowymi.
Testwall może dostarczyć używany Wayne-Kerr 6520P, w pełni przetestowany. Dzięki fachowemu wsparciu i globalnej dostawie Testwall zapewnia wysoką wydajność aparatury, niezawodność i najlepszą jakość usług. Prosimy o kontakt, jeśli potrzebujesz kalibracji lub naprawy Wayne-Kerr 6520P.
