Wayne Kerr

Wayne Kerr 6530P

High Frequency LCR Meter, 30 MHz
20 Hz – 3 MHz Zakres częstotliwości
0,05% Podstawowa dokładność pomiaru
1 mΩ – 100 MΩ Zakres impedancji
5 mV – 1 V (RMS) Poziom sygnału testowego (napięcie)
100 μA – 100 mA (RMS) Poziom sygnału testowego (prąd)
Zamów kartę katalogową
Atrybut Wartość
Zakres częstotliwości 20 Hz – 3 MHz
Podstawowa dokładność pomiaru 0,05%
Zakres impedancji 1 mΩ – 100 MΩ
Poziom sygnału testowego (napięcie) 5 mV – 1 V (RMS)
Poziom sygnału testowego (prąd) 100 μA – 100 mA (RMS)
Mierzone parametry |Z|, |Y|, C, L, R, D, Q, G, B, θ, ESR
Interfejsy komunikacyjne USB, LAN (LXI), GPIB (opcjonalnie)
Wyświetlacz Kolorowy wyświetlacz TFT LCD
Liczba punktów pomiarowych (sweep) Do 801 punktów na przebieg
Zasilanie 100–240 V AC, 50/60 Hz
Wayne Kerr 6530P Options:
  • 6530P - /B1 - Bin handler (non-isolated 5V)
  • 6530P - /B2 - Bin handler (isolated 24V)
  • 6530P - /D1 - DC Bias (0 to +40V, 0 to +100mA)
  • 6530P - /D2 - DC Bias (-40V to +40V)
Formularz kalibracji Wayne Kerr 6530P

Formularz naprawy Wayne Kerr 6530P
Maximum file size: 40MB

No Related Posts

Więcej informacji
Model6530P

Wayne-Kerr 6530P zapewnia wysoką dokładność pomiarów LCR i szybkie wykonywanie testów, idealne do automatyzacji i kontroli jakości w produkcji.

Dzięki programowalnym ustawieniom i intuicyjnej obsłudze zwiększa wydajność i zapewnia spójność standardów testowych w QA.

Testwall może dostarczyć używany Wayne-Kerr 6530P, w pełni przetestowany. Dzięki wsparciu ekspertów i globalnej dostawie, Testwall zapewnia niezawodne urządzenia o wysokiej wydajności. Skontaktuj się z nami w sprawie kalibracji lub naprawy Wayne-Kerr 6530P.

Clicky