Keithley 2260B-250-4

| Attribut | Wert |
|---|---|
| Ausgangsspannung | 0 – 250 V |
| Ausgangsstrom | 0 – 4 A |
| Ausgangsleistung | 1000 W |
| Anzahl der Ausgangskanäle | 1 |
| Programmierschnittstellen | USB, LAN (LXI), RS-232, Analogsteuerung |
| Spannungseinstellgenauigkeit | ±(0,05 % + 100 mV) |
| Stromeinstellgenauigkeit | ±(0,2 % + 10 mA) |
| Spannungswelligkeit und Rauschen | ≤ 150 mV (Spitze-Spitze), ≤ 30 mV (RMS) |
| Betriebstemperaturbereich | 0 °C bis +50 °C |
| Formfaktor | 2U Halbeinschub (Rack-montierbar) |
Keithley 2260B-250-4 Options:
- 2260B-250-4 - EW - 3-year factory warranty extended to 1 additional year from date of shipment
- 2260B-250-4 - 5Y-EW - 3-year factory warranty extended to 5 years from date of shipment
- 2260B-250-4 - 3Y-STD - KeithleyCare 3 Year Standard Calibration Plan
- 2260B-250-4 - 3Y-DAT - KeithleyCare 3 Year Calibration with Data Plan
- 2260B-250-4 - 5Y-STD - KeithleyCare 5 Year Standard Calibration Plan
- 2260B-250-4 - 5Y-DAT - KeithleyCare 5 Year Calibration with Data Plan
- 2260B-250-4 - GPIB-USB - GPIB-to-USB Adapter
- 2260B-250-4 - EXTERM - Extended Terminal (Test Leads, 0.7m, and terminal box)
- 2260B-250-4 - RMK-JIS - Rack Mount Kit (JIS racks)
- 2260B-250-4 - RMK-EIA - Rack Mount Kit (EIA racks)
| Model | 2260B-250-4 |
|---|
Das Keithley 2260B-250-4 Netzgerät verfügt über programmierbare Spannungs- und Stromanstiegszeiten von 0,1V/s bis 60V/s, einen Innenwiderstand bis 55,55Ω sowie präzise Anstiegs-/Abfallzeiten zur Simulation realistischer Bedingungen. USB, LAN, Analog- und optional GPIB-Schnittstellen sind verfügbar.
Einsatzbereiche sind LED-Tests, Automobilanwendungen, Batterieforschung sowie Lebensdauertests mit benutzerdefinierten Spannungsprofilen und analoger Steuerung.
Testwall kann das gebrauchte Keithley 2260B-250-4 vollständig getestet liefern. Mit fachkundiger Unterstützung und weltweitem Versand bietet Testwall leistungsstarke Instrumente mit unübertroffener Zuverlässigkeit. Kontaktieren Sie uns für Kalibrierung oder Reparatur des Keithley 2260B-250-4.





