Keysight Technologies 4156A Semiconductor Parameter Analyser
Semiconductor Parameter Analyser
| Atributo | Valor |
|---|---|
| Número de Unidades de Medida de Fuente (SMU) | 4 SMU de alta resolución |
| Rango de Voltaje de Salida | ±100 V (modo de alto voltaje), ±20 V (modo estándar) |
| Rango de Corriente de Salida | De 1 fA a 100 mA por canal SMU |
| Resolución de Medición de Corriente | Hasta 10 fA de resolución mínima |
| Resolución de Medición de Voltaje | Hasta 2 µV de resolución mínima |
| Número de Canales de Voltaje de Referencia (VSU) | 2 unidades de fuente de voltaje (VSU) |
| Unidades de Monitor de Voltaje (VMU) | 2 unidades de monitor de voltaje integradas |
| Interfaz de Comunicación | GPIB (IEEE-488) para control remoto |
| Capacidad de Barrido | Barrido automático de voltaje y corriente con hasta 1024 puntos de medición |
| Dimensiones del Equipo | Formato estándar de sobremesa (benchtop), 426 mm x 221 mm x 497 mm aproximadamente |
| Model | 4156A |
|---|
El Keysight (Agilent) 4156A proporciona análisis precisos de semiconductores con un amplio rango de medición: corriente de 1 fA a 1 A (precisión de desplazamiento de 20 fA) y voltaje de 1 µV a 200 V. Soporta barridos I-V totalmente automatizados en modo DC o de pulsos, con hasta 6 SMU.
Con intervalos de medición de 60 µs, hasta 10.001 puntos, funciones de estrés/medida sincronizadas y generadores de pulsos (±40 V), es perfecto para pruebas de alta precisión.
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