Wayne Kerr 6505P
| Atributo | Valor |
|---|---|
| Rango de frecuencia | 20 Hz - 500 kHz |
| Precisión básica | 0,05% |
| Parámetros de medición | Z, Y, R, X, G, B, L, C, D, Q, θ, Δ |
| Rango de impedancia | 1 mΩ - 100 MΩ |
| Nivel de señal de prueba | 5 mV - 1 V (RMS) |
| Velocidad de medición | Rápida, media y lenta (hasta 27 mediciones por segundo) |
| Pantalla | Pantalla LCD gráfica retroiluminada |
| Interfaces | USB, RS-232, Handler |
| Corriente de polarización CC | Hasta 200 mA (con fuente externa) |
| Alimentación eléctrica | 90 - 264 V CA, 47 - 63 Hz |
Wayne Kerr 6505P Options:
- 6505P - /B1 - Bin handler (non-isolated 5V)
- 6505P - /B2 - Bin handler (isolated 24V)
- 6505P - /D1 - DC Bias (0 to +40V, 0 to +100mA)
- 6505P - /D2 - DC Bias (-40V to +40V)
| Model | 6505P |
|---|
El Wayne-Kerr 6505P ofrece mediciones rápidas y precisas con funciones programables que facilitan el análisis automatizado de componentes. Sus opciones de configuración flexibles admiten diversas aplicaciones, lo que lo convierte en una herramienta esencial para pruebas de producción avanzadas y entornos de I+D exigentes.
Diseñado con una interfaz intuitiva, el 6505P simplifica el uso mientras mantiene altos estándares de rendimiento. Sus funciones de automatización permiten una integración eficiente en los flujos de trabajo, reduciendo tiempos de prueba y garantizando resultados consistentes y fiables.
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