Wayne Kerr 6510P
| Atributo | Valor |
|---|---|
| Rango de frecuencia | 20 Hz - 500 kHz |
| Precisión básica | 0,1% |
| Parámetros de medición | Z, Y, R, X, G, B, L, C, D, Q, θ, |Z|, |Y| |
| Nivel de señal de prueba | 5 mV - 1 V RMS |
| Impedancia de prueba | 1 mΩ - 100 MΩ |
| Velocidad de medición | Rápida, media y lenta (Fast, Medium, Slow) |
| Interfaz de comunicación | GPIB (IEEE-488) y RS-232 |
| Pantalla | Pantalla LCD retroiluminada con visualización de doble parámetro |
| Corriente de polarización DC | Hasta 200 mA (con adaptador externo) |
| Alimentación eléctrica | 90 - 250 V AC, 47 - 63 Hz |
Wayne Kerr 6510P Options:
- 6510P - /B1 - Bin handler (non-isolated 5V), 25-way D-type connector
- 6510P - /B2 - Bin handler (isolated 24V), 25-way D-type connector
- 6510P - /D1 - DC Bias (0 to +40V, 0 to +100mA)
- 6510P - /D2 - DC Bias (-40V to +40V)
| Model | 6510P |
|---|
El Wayne-Kerr 6510P ofrece una avanzada programabilidad para pruebas LCR, permitiendo mediciones precisas de inductancia, capacitancia y resistencia. Con configuraciones ajustables y flujos de trabajo automatizados, mejora la precisión y eficiencia en producción e investigación.
Sus capacidades de prueba de alta velocidad lo hacen ideal para tareas repetitivas en QA y I+D, mientras que su interfaz intuitiva asegura un manejo fácil en diversos entornos.
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