Wayne Kerr 65120P
| Atributo | Valor |
|---|---|
| Rango de frecuencia | 20 Hz - 120 MHz |
| Impedancia básica de precisión | 0,05% |
| Rango de impedancia | 1 mΩ - 100 MΩ |
| Nivel de señal de prueba (tensión) | 5 mV - 1 V RMS |
| Nivel de señal de prueba (corriente) | 200 µA - 100 mA RMS |
| Parámetros de medición | |Z|, |Y|, R, X, G, B, L, C, D, Q, θ, Vac, Iac |
| Tiempo de medición | Mínimo 4 ms |
| Interfaz de comunicación | USB, LAN (LXI), Handler |
| Pantalla | Pantalla LCD en color de 4,3 pulgadas |
| Alimentación eléctrica | 90 - 264 V CA, 47 - 63 Hz |
Wayne Kerr 65120P Options:
- 65120P - /B1 - Bin handler (non-isolated 5V), 25-way D-type connector, 10 bins with absolute and percentage limits
- 65120P - /B2 - Bin handler (isolated 24V), 25-way D-type connector, 10 bins with absolute and percentage limits
- 65120P - /D1 - DC Bias (0 to +40V, 0 to +100mA)
- 65120P - /D2 - DC Bias (-40V to +40V)
| Model | 65120P |
|---|
El Wayne-Kerr 65120P es un medidor LCR programable avanzado diseñado para optimizar las pruebas automatizadas con gran precisión. Basado en el 65120B, ofrece automatización programable que agiliza procesos repetitivos manteniendo una alta fiabilidad. Su rápido funcionamiento lo hace ideal para entornos de gran volumen, mientras que sus opciones de configuración flexibles permiten gestionar pruebas complejas de forma eficiente. Con capacidades precisas de medición LCR, este instrumento es una excelente elección para ingenieros en pruebas de producción a gran escala.
Los ingenieros se benefician de la capacidad del Wayne-Kerr 65120P para aumentar la productividad en entornos de prueba exigentes, ofreciendo un rendimiento constante y adaptabilidad en múltiples aplicaciones.
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