Wayne Kerr 6550P
| Atributo | Valor |
|---|---|
| Rango de frecuencia | 20 Hz - 500 kHz |
| Impedancia de prueba | 1 mΩ - 100 MΩ |
| Precisión básica | 0,05% |
| Nivel de señal de prueba (tensión) | 5 mV - 1,275 V RMS |
| Nivel de señal de prueba (corriente) | 50 µA - 100 mA RMS |
| Parámetros de medición | Z, Y, L, C, R, X, G, B, D, Q, θ, DCR |
| Pantalla | Pantalla LCD gráfica de alta resolución |
| Interfaz de conexión | IEEE-488 (GPIB), RS-232, USB |
| Velocidad de medición | Hasta 60 mediciones por segundo |
| Alimentación eléctrica | 85 - 265 V CA, 47 - 63 Hz |
Wayne Kerr 6550P Options:
- 6550P - /B1 - Bin handler (non-isolated 5V)
- 6550P - /B2 - Bin handler (isolated 24V)
- 6550P - /D1 - DC Bias (0 to +40V, 0 to +100mA)
- 6550P - /D2 - DC Bias (-40V to +40V)
| Model | 6550P |
|---|
El Wayne-Kerr 6550P es un analizador LCR programable de alto rendimiento, diseñado para pruebas precisas de condensadores, inductores y resistencias. Permite la automatización avanzada mediante rutinas de prueba programables, ideal para entornos de I+D y producción. Su amplio rango de frecuencias asegura mediciones rápidas y precisas en análisis complejos.
Con su cobertura de frecuencia amplia, velocidad de medición rápida y precisión fiable, el 6550P es ideal para laboratorios y líneas de producción.
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