Tektronix BSX125
| Attribut | Valeur |
|---|---|
| Largeur de bande | 125 MHz |
| Nombre de canaux | 34 canaux logiques |
| Fréquence d'échantillonnage maximale | 500 MS/s |
| Profondeur mémoire | 2 Mpoints par canal |
| Tension d'entrée maximale | ±40 V (crête) |
| Seuil de tension programmable | -6 V à +6 V |
| Interface de connexion | USB 2.0 |
| Compatibilité logicielle | Compatible avec Tektronix SignalVu-PC et oscilloscopes de la série MSO/DPO |
| Température de fonctionnement | 0 °C à +50 °C |
| Dimensions (L x H x P) | 214 mm x 38 mm x 114 mm |
Tektronix BSX125 Options:
- BSX125 - Opt. FEC - Forward error correction emulation
- BSX125 - Opt. UPM - User-defined detector pattern match
- BSX125 - Opt. F2 - F/2 jitter generation
- BSX125 - Opt. J-MAP - Add jitter decomposition software
- BSX125 - Opt. LDA - Add live data analysis software
- BSX125 - Opt. STR - Stressed signal generation
- BSX125 - Opt. SLD - Add stressed live data option software
- BSX125 - Opt. TXEQ - Add 4-tap Tx equalization
- BSX125 - Opt. C3 - Calibration Service 3 Years
- BSX125 - Opt. R3 - Repair Service 3 Years (including warranty)
- BSX125 - Opt. R3DW - Repair Service Coverage 3 Years (includes product warranty period). 3-year period starts at time of customer instrument purchase
| Model | BSX125 |
|---|
Le Tektronix BSX125 de la série BERTScope BSX permet des tests jusqu’à 32 Gb/s avec égalisation Tx, entraînement de liaison, émulation FEC et séquençage de motifs intelligent. Comprend l’analyse du diagramme de l’œil, la cartographie de gigue et Error Location Analysis™ pour des tests avancés de récepteurs.
Parfait pour les tests de conformité Gen3/Gen4, l’analyse d’intégrité du signal et la validation des E/S haut débit pour PCIe, SAS, USB3.1 et protocoles personnalisés.
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