Wayne Kerr 65120P
| Attributo | Valore |
|---|---|
| Frequenza massima di test | 120 MHz |
| Frequenza minima di test | 20 Hz |
| Precisione di base | 0,05% |
| Livello del segnale di test | 5 mV - 1 V RMS |
| Impedenza del segnale di test | 5 Ω, 25 Ω, 50 Ω, 100 Ω |
| Parametri misurabili | |Z|, |Y|, C, L, R, X, G, B, D, Q, θ, DCR |
| Intervallo di misura dell'impedenza | 1 mΩ - 100 MΩ |
| Interfacce di comunicazione | USB, LAN (LXI), Handler |
| Display | Display LCD a colori da 7 pollici |
| Alimentazione | 100 - 240 V CA, 50/60 Hz |
Wayne Kerr 65120P Options:
- 65120P - /B1 - Bin handler (non-isolated 5V), 25-way D-type connector, 10 bins with absolute and percentage limits
- 65120P - /B2 - Bin handler (isolated 24V), 25-way D-type connector, 10 bins with absolute and percentage limits
- 65120P - /D1 - DC Bias (0 to +40V, 0 to +100mA)
- 65120P - /D2 - DC Bias (-40V to +40V)
| Model | 65120P |
|---|
Il Wayne-Kerr 65120P è un avanzato misuratore LCR programmabile progettato per migliorare i test automatizzati con un’elevata precisione. Basato sul modello 65120B, offre un’automazione programmabile che semplifica i processi ripetitivi garantendo al contempo grande affidabilità. La sua rapida operatività lo rende ideale per ambienti ad alta produttività, mentre le opzioni di configurazione flessibili permettono di affrontare con efficienza test complessi. Grazie alle misure LCR precise, questo strumento rappresenta una scelta eccellente per gli ingegneri impegnati in test di produzione su larga scala.
Gli ingegneri traggono vantaggio dalla capacità del Wayne-Kerr 65120P di migliorare la produttività in ambienti di test impegnativi, offrendo prestazioni costanti e adattabilità a molteplici applicazioni.
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