Wayne Kerr
Wayne Kerr 6530P
High Frequency LCR Meter, 30 MHz
20 Hz - 3 MHz Gamma di frequenza
1 mΩ - 100 MΩ Impedenza di misura
0,05% Precisione di base
5 mV - 1 V RMS Livello del segnale di test
Z, Y, R, X, G, B, L, C, D, Q, θ, |Z|, |Y| Parametri misurabili
| Attributo | Valore |
|---|---|
| Gamma di frequenza | 20 Hz - 3 MHz |
| Impedenza di misura | 1 mΩ - 100 MΩ |
| Precisione di base | 0,05% |
| Livello del segnale di test | 5 mV - 1 V RMS |
| Parametri misurabili | Z, Y, R, X, G, B, L, C, D, Q, θ, |Z|, |Y| |
| Interfacce di connessione | USB, GPIB, Handler |
| Display | Display LCD a colori TFT |
| Velocità di misurazione | Fino a 60 misurazioni al secondo |
| Tensione di polarizzazione DC | 0 V - 40 V DC |
| Alimentazione | 100 - 240 V AC, 50/60 Hz |
Wayne Kerr 6530P Options:
- 6530P - /B1 - Bin handler (non-isolated 5V)
- 6530P - /B2 - Bin handler (isolated 24V)
- 6530P - /D1 - DC Bias (0 to +40V, 0 to +100mA)
- 6530P - /D2 - DC Bias (-40V to +40V)
| Model | 6530P |
|---|
Il Wayne-Kerr 6530P offre misure LCR ad alta precisione ed esecuzione rapida dei test, ideale per automazione e controllo qualità in ambito produttivo.
Con impostazioni programmabili e comandi intuitivi, migliora l'efficienza e garantisce standard di test costanti nei processi QA.
Testwall può fornire il Wayne-Kerr 6530P usato, completamente testato. Con supporto esperto e consegna globale, Testwall garantisce strumenti ad alte prestazioni con affidabilità e qualità. Contattaci per calibrazione o riparazione del Wayne-Kerr 6530P.
