Wayne Kerr 6520P
| Atributo | Valor |
|---|---|
| Rango de frecuencia | 20 Hz - 500 kHz |
| Precisión básica de impedancia | 0,1% |
| Rango de medición de impedancia | 1 mΩ - 100 MΩ |
| Nivel de señal de prueba | 5 mV - 1 V (RMS) |
| Parámetros de medición | Z, Y, R, X, G, B, L, C, D, Q, θ, Vac, Iac, Vdc, Idc |
| Pantalla | Pantalla LCD gráfica de alta resolución |
| Interfaz de comunicación | USB, GPIB, RS-232, Handler |
| Velocidad de medición | Rápida, media y lenta (hasta 27 mediciones/segundo) |
| Corriente de polarización DC | Hasta 100 mA DC |
| Alimentación eléctrica | 90 - 264 V AC, 47 - 63 Hz |
Wayne Kerr 6520P Options:
- 6520P - /B1 - Bin handler (non-isolated 5V), 25-way D-type connector, common 0V, bin outputs 0 to 5V (nominal) with >10mA current sink capability
- 6520P - /B2 - Bin handler (isolated 24V), 25-way D-type connector, common 24V input, outputs 0 to 24V with >10mA current source capability
- 6520P - /D1 - DC Bias (0 to +40V, 0 to +100mA), provides 0 to +40Vdc bias voltage and 0 to +100mAdc bias current
- 6520P - /D2 - DC Bias (-40V to +40V), provides -40V to +40Vdc bias voltage
| Model | 6520P |
|---|
El Wayne-Kerr 6520P amplía las capacidades del 6520B con una funcionalidad totalmente programable. Esto permite rutinas de medición automatizadas y eficientes, ideales para entornos de producción. Ofrece mediciones precisas de componentes con configuraciones de prueba flexibles y controles fáciles de usar.
Diseñado para pruebas de alto rendimiento, el 6520P mejora la eficiencia del trabajo mediante la automatización sin comprometer la precisión de las mediciones. Su configuración adaptable permite una integración sencilla en diferentes sistemas de prueba.
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